1. 颗粒粒度分析仪
激光粒度分析仪KW510的粒度分布图和分布表分析：
首先要搞懂粒度分析图里面的名称概念都分别代表什么含义：
1. 分散介质：用于分散被测样品的液体介质。分散介质与被测颗粒不能发生化学反应，也不能溶解被测样品。
2. 测试范围：即所测粒径的区域，在软件的数据模板中选定。它与仪器的档位相对应。
3. 分散剂：能够改变颗粒与液体之间的介面状态，促进颗粒分散的化学物质。
4.分析模式：自由分布，即由无约束自由拟合算法所得的样品本身固有的自然粒度 分布。本软件中还有R-R分布和对数正态分布。
5. 样品浓度：光学浓度；遮光比。
6. 拟合误差：能谱数据向粒度分布数据转换时产生的计算误差。
参数定义：
1. D10或X10：颗粒累积分布为10%的粒径，即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的10%。
2. D50或X50：颗粒累积分布为50%的粒径。即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的50%。
3. D90或X90：颗粒累积分布为90%的粒径。即小于此粒径的颗粒体积含量占全部颗粒的90%。
4. X[3，2]：表面积平均粒径，是粒径对表面积的加权平均，又称索太尔平均径。
5. X[4，3]：体积平均粒径，是粒径对体积（或重量）的加权平均，同上述Xav。
6.S/V：体积比表面积；单位体积颗粒的表面积。
7. DAV或XAV：颗粒群的平均粒径。
8. 等效直径：周长等效直径：dc=C/π(C：颗粒截面周长 )、 颗粒体积估算值： V=πda3/6、颗粒表面积估算值 ：S=πda2
9. 形状分析数据：
l 球形度： Q=截面积等效直径/周长等效直径，球形度表征颗粒接近球形的程度。球体的球形度等于1；其他颗粒球形度小于1。
l 长宽比：L=颗粒长度/颗粒宽度，表征颗粒柱形的程度。
2. 测颗粒度仪器
17/15/13是污染度等级代码，类似的表达方法还有NAS 等级,前者要准确,后者用得较多,第一个代码表示大于4um(c)颗粒等级第二个代码表示大于6um(c)颗粒等级第三个代码表示大于14um(c)颗粒等级正好与老标准2um,5um,15um对应.，用ACFTD 校准＞2μm 的数量，相当于用ISOMTD 校准＞4μm（C）的数量；
例：代码17，表示该油大于4um(c)颗粒数范围在640-1300之间（1ml中的颗粒数），代码15，表示该油大于6um(c)颗粒数范围在160-320之间代码13，表示该油大于14um(c)颗粒数范围在40-80之间(从网上下载污染度等级代码表)具体的数量多少还得通过仪器检测方可知道.其上对应的NAS 等级基本上在NAS 6级左右,但不是绝对的,液压油最好控制在8级以下.新油的等级基本上在NAS 8-10级,所以说系统加入新油时一定要通过过滤泵方可加入,但大多企业都做不到.
3. 液体颗粒度分析仪
卡特液压油检查方法：先用PSD-250油液取样器在油箱、液压阀、液压泵、油缸等部位取油样，然后可用PLD-0201油液颗粒度分析仪检测液压油的清洁度、颗粒度和污染物、水分、粘度、机械杂质等产品
液压油全部回到液压油箱里面，观看液压泵旁边的液压油是创在三条刻度线中间位置上线，两条刻度线以内属于标准。液压油就是利用液体压力能的液压系统使用的液压介质，在液压系统中起着能量传递抗魔系统润滑防腐防锈冷却等作用，对于液压油来说，首先，应满足液压装置在工作温度下与启动温度下对液体粘度的要求。
4. 颗粒分析仪器
在我们单位是做原料药的在对API进行分析时认为分成理化项目和仪器项目具体来说，理化项目用到的仪器有水分仪、红外、比旋和熔点仪。
仪器项目主要用到的仪器有HPLC和GC随着大家对产品晶形和颗粒度的认识，现在检测颗粒度也是比较常用的。至于楼主说的LC-MS，我们一般不用，除非是我们对产品(或杂质）的结构无法进行明确的判断时才外送。5. 粒度粒径分析仪
1、百特粒度分析仪排不了水，看下仪器硬件是否正常，能不能和电脑正常连接，能做出基准为正常；超声搅拌循环系统是否能够正常工作。循环主要是仪器内水泵为动力，样品池上方圆孔有水流出且没有明显气泡为正常。
2、光路是否正常。首先，激光管是不是可以正常工作，能出光；其次，光路是不是有偏光现象，可以在样品窗前遮挡，近似圆为正常；后，光线能不能从正面向仪器右手边绿色探测器出来，出来光近似圆为正常。
43、基准的判断。仪器正不正常大部分问题可有基准判断出来，如何做基准显得尤为重要。在样品池里加上水(以水为例)，点击排液按钮，有水排出关闭，打开循环按钮，样品池上孔有水出来为准。
6. 颗粒粒度测量分析系统
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XRD测量纳米材料晶粒大小的原理是当材料晶粒的尺寸为纳米尺度时，其衍射峰型发生相应的宽化，通过对宽化的峰型进行测定并利用Scherrer公式计算得到不同晶面的晶粒尺寸。对于具体的晶粒而言, 衍射hkl的面间距dhkl和晶面层数N的乘积就是晶粒在垂直于此晶面方向上的粒度Dhkl。试样中晶粒大小可采用Scherrer公式进行计算:
式中：λ-X射线波长;θ-布拉格角 (半衍射角) ;βhkl-衍射hkl的半峰宽。
X射线衍射法（XRD）表征材料晶相结构
优点：可用于未知物的成分鉴定。
缺点：灵敏度较低；定量分析的准确度不高；测得的晶粒大小不能判断晶粒之间是否发生紧密的团聚；需要注意样品中不能存在微观应力。
7. 粒度分析仪器
sem所测的粒径分布代表不同粒径范围内的颗粒的个数所占的比例。
扫描电子显微镜（SEM）是利用二次电子和背散射电子信号，通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等的一种分析仪器，随着科学技术水平的提高，其放大倍数 可达几十万倍，分辨率可达纳米级别，是形貌和成分分析领域极其重要的一种工具。