晶圆厚度测量仪器(晶体厚度测量)

海潮机械 2023-01-16 04:54 编辑:admin 150阅读

1. 晶体厚度测量

晶体生长,物质在压力等条件下形成线度尺寸晶体的过程。

晶体生长,指的是物质在一定温度、压力、浓度、介质、pH等条件下由气相、液相、固相转化,形成特定线度尺寸晶体的过程称为晶体生长。

crystalgrowth其原理基于物种晶相化学势与该物种在相关物相中化学势间准平衡关系的合理维持。

2. 晶体厚度检查

晶体囊又称晶状体囊膜(lens capsule;crys-talline capsule)。完整地包围在晶状体周围、厚度不均、透明而富有弹性的玻璃状膜,系由晶状体上皮分泌所产生。

晶状体囊由细丝和细小颗粒组成。浅层疏松呈网状,深层呈板层状,随胎龄增长其板层间隙变小,板层结构模糊。3个月一8个月胎儿晶状体囊表面可见血管,管腔内见红细胞。8个月后囊表面未见有血管,与手术显微镜下观察是一致的。

3. 晶体厚度测量图

Wafer thickness 硅片厚度

TTV (总厚度偏差) 就是硅片最后处与最薄处之间的差值,反应硅片的厚度均匀性

TIR (total internal re-flection) 全内反射

TIR95 效率95%吧

FPD 焦平面偏离(FPD)是指硅片上距焦平面最高处和最深处到焦平面的距离中远的一个 warp 翘曲度,硅片中面与参考面之间的最大距离和最小距离之差

sori 索瑞 不知道是指的硅片表面的什么

Bow 弯曲度

SagX X方向的凹陷

4. 晶状体厚度测量

看远处时,晶状体的焦距变长,晶状体变薄,看近处时,晶状体的焦距变短,晶状体变厚,

因为远处物体传来的光线更接近平行,也就更容易被晶状体会聚成像在视网膜上,所以晶状体的折射率会相对变小.而近处物体传向眼睛的光线更发散,晶状体变厚才能提高折射率,才能使更发散的光线会聚成像在视网膜上.人的眼睛通过调整晶状体的厚度(相当于凸透镜的焦距)使远近不同的物体成像都在视网膜上而看清物体,因此当看远处物体时晶状体的厚度就变薄,看近处物休时就要使晶状体的厚度就变厚些。

5. 晶体厚度怎么测量

变厚啊!近视眼戴凹透镜,凹透镜不是起发散作用吗?说明晶状体折光率太强,晶状体变厚了焦距变小了,像落在视网膜前边形成近视。可以用不同厚度的凸透镜或谁凸透镜做实验(焦距一定要不同,用水凹透镜最好,可以向透镜中加水改变厚度即焦距,和晶状体差不多)

6. 晶体厚度测量方法

晶状体前面的曲率半径约10mm,后面约6mm,晶状体直径约9mm,厚度随年龄增长而缓慢增加,一般约为4mm。