光谱仪直读仪(直读光谱仪使用)

海潮机械 2023-01-19 00:27 编辑:admin 83阅读

1. 直读光谱仪使用

全谱直读光谱仪的优点如下:

全谱直读光谱仪(CCD)相对于PMT性价比更高。

一、采用现代最先进的ccd数码技术,实现了分析光谱的全谱直读。特殊设计的激发光源,使金属材料的成份分析进入了一个新的时代。卓越的分析性能、极短的分析时间,极低的运行维护成本,智能化的操作模式,使样品分析简单易行。

二、全谱直读光谱仪特点:

1.真空光室技术,快速稳定。

2.指纹谱图技术,自动最佳谱线识别 。

3.开放式电极架,适用于各种形状和尺寸的样品分析。

4.自动谱库寻址,免除繁琐的波峰扫描工作 。

5.随时增加分析材料种类及分析元素 。

6.先进的ccd数码技术,分析光谱全谱直读 。

7.自动光路校准,不受温度漂移影响,确保分析的准确性。

8.智能化分析模式,快速准确测定各金属材料中的元素成分。

三、光谱仪广泛应用于冶金、机械及其他工业部门,进行冶炼炉前的在线分析以及中心实验室的产品检验,是控制产品质量的有效手段之一。

四、分析速度快;准确度高,相对误差约为1%;适用于较宽的波长范围;光电倍增管对信号放大能力强,对强弱不同谱线可用不同的放大倍率,相差可达10000倍,因此它可用同一分析条件对样品中多种含量 范围差别很大的元素同时进行分析;线性范围宽,可做高含量分析。

2. 直读光谱仪使用注意事项

原理:直读光谱仪采用原子发射光谱学的分析原理,样品经过电弧或火花放电激发成原子蒸汽,蒸汽中原子或离子被激发后产生发射光谱,发射光谱经光导纤维进入光谱仪分光室色散成各光谱波段,根据每个元素发射波长范围,通过光电管测量每个元素的最佳谱线,每种元素发射光谱谱线强度正比于样品中该元素含量,通过内部预制校正曲线可以测定含量,直接以百分比浓度显示。

3. 直读光谱仪使用记录

便携式合金分析仪的使用方法:

  1.使用前认真阅读本设备操作使用规程或使用说明书,仔细检查仪器表面,如发现有明显破损或异常现象应立即更换。

  2.使用该设备时应正确佩戴设备防护腰带,手握设备时应先把防滑带套入手腕,以防设备损坏。

  3.测量前应保证被测面露出金属光泽。按下电源开关,仪器发出提示音,液晶屏幕显示数据后,直接在触摸屏上输入1、2、3、4、E进入操作界面(主界面)。

  4.仪器校正:在正式测试前,应检测“标块”,确认检测值正常,方可进检测产品。

  5.测量时把发射镜贴近被测物体表面,按下把手上的检测开关按钮,此时工作提醒灯闪烁测量开始,待仪器发出提示音测量结束。

  6.按“▼”/“▲”键翻看检测数据。继续检测请则再次按下把手上的检测开关按钮。退出检测界面按“←”回到主界面。

  7.测量完毕后长按电源开关,关机,并将设备放置在防水设备箱内。

  便携式合金分析仪使用常识:

  1.操作前应确保电池有足够电量。

  2.本仪器需专人操作,专人负责日常维护、清洁及保养工作,并做好仪器使用记录。非相关人员不得擅自操作。

  3.在任何情况,如果未使用仪器,不得开启挡板。

  4.在任何时候都要确定X射线方向、谨防辐射。

  5.在测试过程中不得将仪器放在Kapton窗口附近。在挡板开启时,勿将仪器指向自己或其他任何人。

  6.勿将仪器侵入水中。

  7.在下载读数时不可进行测量,在删除数据时切勿关闭仪器。

  8.本仪器因采用X射线荧光,因而要避免在露天强光(特别是紫外线强的前提下)操作,以免数据不准。

  9.本仪器为精密设备,操作时尽量做到轻拿轻放,以免设备破损。

4. 直读光谱仪使用方法

一般校正的方法如下:

全谱型:只需激发单块标样,即可通过软件算法自动完成所有谱线的校正。

多道型:通过描迹完成校正,校正时需激发一组标样才能完成所有通道的校正,如果仪器各通道的漂移不一致,单纯的描迹无法完成校正,需要通过调整出射狭缝位置或折射镜角度,来校正谱线的变化,此操作需要维修工程师才能完成。

直读光谱仪的定量方法属于参照法,即需要一系列的标样来制定工作曲线作为参照标准,再通过对比待测元素的强度,计算出元素含量。由于标样和实际样品存在差异,测量结果势必有一定的偏差,但这种偏差可以通过控样来修正。

因此,测量结果的准确度除了与仪器有关外,还与控样的质量有密切的关系,只有重复性和稳定性才直接体现仪器性能的好坏。

5. 直读光谱仪使用维护记录

红外光谱仪的原理是利用物质对不同波长的红外辐射的吸收特性,进行分子结构和化学组成分析的仪器。红外光谱仪通常由光源,单色器,探测器和计算机处理信息系统组成。根据分光装置的不同,分为色散型和干涉型。

对色散型双光路光学零位平衡红外分光光度计而言,当样品吸收了一定频率的红外辐射后,分子的振动能级发生跃迁,透过的光束中相应频率的光被减弱,造成参比光路与样品光路相应辐射的强度差,从而得到所测样品的红外光谱。