1. 荧光分光光度计与荧光光谱仪
紫外分光光度计测分子紫外光区吸收强度荧光分光光度计测吸收光能量处于激发态分子发出辐射(即分子荧光)
2. 荧光分光光度计与荧光光谱仪哪个好
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。 X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。 两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
3. 荧光分光光度计与荧光光谱仪的关系
因为与分子吸光光度法比较，萤光是从入射光的直角方向检测，即在黑暗背景下检测荧光的发射。分子吸光光度法中有入射光的背景干扰，因而分子荧光分析法的灵敏度通常比分子吸光光度法的要高2——4个数量级。
荧光或磷光分析法是在入射光的直角方向测定荧光强度，即在黑背景下进行检测，因此可以通过入射光强度i或者增大荧光或者磷光信号的放大倍数来提高灵敏度。
4. 荧光分光光度计和荧光光谱仪
光光度计称光谱仪(spectrometer)复杂光解光谱线科仪器测量范围般包括波范围380~780 nm见光区波范围200～380 nm紫外光区同光源都其特发射光谱,采用同发光体作仪器光源钨灯发射光谱：钨灯光源所发380～780nm波光谱光通三棱镜折射由红、橙、黄、绿、蓝、靛、紫组连续色谱；该色谱作见光光光度计光源
5. 分光光度计和荧光分光光度计
优点：灵敏度高，可以用于扫描液相荧光标记物所发出的荧光光谱，不但可以做一般的定量分析, 而且还可以推断分子在各种环境下的构象变化, 从而阐明分子结构与功能之间的关系。缺点：
1、荧光的光强并不高，所以呈线性情况有时不很理想；
2、某些反应荧光持续的时间较短；
3、荧光的发散方向不集中，不像透射光那样集中，强度高；
4、受某些离子的干扰影响，荧光会湮灭，试验速度必须要快。
6. 荧光分光光度计测定
直接测定法
利用物质自身发射的荧光进行测定分析。
间接测定法
不管是直接测定，还是间接测定，一般的采用标准工作曲线法，取各种已知量的荧光物质，配成一系列的标准溶液，测定出这些标准溶液的荧光强度，然后给出荧光强度对标准溶液的浓度的工作曲线。在同样的仪器条件下，测定未知样品的荧光强度，然后从标准工作曲线上查出未知样品的浓度（即含量）。
一般常用的荧光分析仪器有：目测荧光仪（荧光分析灯），荧光光度计和荧光分光光度计三种。
7. 荧光光度计与分光光度计
荧光测定需要单色性较高的激发光，通常会在光束进入样品之前经单色器分光，保留所感兴趣的激发波长或波段。
较常见的单色器为棱镜或是光栅，在一些简易的荧光系统中也可使用滤波片。在该系统中，由激发光源发出的光经激发单色器分光获得特定波长的激发光，然后射入样品池，激发荧光物质的荧光发射。
荧光分光光度计与荧光光度计的区别在于两者之间的分光系统，前者可以采用色散型单色器，可对入射和发射光波长进行选择，可进行入射/ 发射波长扫描，多见于大型通用仪器；后者采用滤光片，具有固定的光谱通带，一般用于专用仪器中。